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非透明膜厚测量仪
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高利通生产的INF1000 非透明膜厚测量仪通过间接测量光的相位差确定非透明薄膜两个表面之间的距离，从而计算出非透明薄膜的厚度。
INF1000 非透明膜厚测量仪包括电脑、主机和样品测试台。
电脑连接主机，主机与样品测台由光纤连接。测试时，使用者可以将非透明薄膜样品放置在样品测试台内，电脑的软件可以直接快速地显示其厚度。
INF1000非透明膜厚测量仪精度比现有的机械式非透明膜厚测量仪的精度（约 0.5μm）高一至两个数量级。这是一种独特创新的、高精度、无损伤和快速的非透明薄膜测量方技术。
此处的非透明膜是指对光波长（包括紫外、可见和红外光等）不透明的薄膜材料，如铜箔、铝箔、新能源电 池覆有活性碳的电极和隔膜等
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●稳定性、可靠性更强，分析更加准确
●软件控制仪器，功能完善，操作便捷和维护方便
●优异的一致性
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项目 指标 备注 测量范围 0.5μm-170μm 分辨率 1μm 准确性 0.50% 数据显示位数 0.001μm 采样速率 100HZ 供电 AC220V/50HZ 能耗 22W 重量 ≈13Kg 工作温度 -10℃-50℃ 存储温度 -20℃-70℃ 工作湿度 ≤80%RH
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●广泛的应用于电池、电子和光电领域
●电池绝缘膜的测量
●电极厚度的测量
●实验室/科研/教学
●客户定制等
